涂层测厚仪可选探头

分体式涂层测厚仪有多种测头可供选择,每种测头适应不同测量场景。可以一个主机配多个测头,实现多功能测量。

概述

分体式涂层测厚仪有多种测头可供选择,每种测头适应不同测量场景。可以一个主机配多个测头,实现多功能测量。

F1探头

F1探头是涂层测厚仪磁性法测量的通用标准探头,测量范围0-1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围。
测头型号 F1  
工作原理 磁感应
测量范围(um) 0-1250
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+1]
测量条件 曲率半径(mm) 凸1.5
基体面积的直径(mm) ф7
临界厚度(mm) 0.5
探头尺寸(mm) ф12X47

N1探头

N1探头是涡流法涂层测厚仪测量的通用标准探头,测量范围0-1250um,基本覆盖大部分涂层厚度范围。
测头型号 N1
工作原理 电涡流
测量范围(um) 0-1250(铜上镀铬0-40um)
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1.5]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+1.5]
测量条件 曲率半径(mm) 3
基体面积的直径(mm) ф5
临界厚度(mm) 0.3
探头尺寸(mm) ф15X73

F1/90°探头

F1/90°探头,主要用于管材内壁的涂层厚度测量F1/90探头可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中,解决了测量夹层和细缝中的涂层厚度测的难题
测头型号 F1/90  
工作原理 磁感应
测量范围(um) 0-1250
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+1]
测量条件 曲率半径(mm) 平直
基体面积的直径(mm) ф7
临界厚度(mm) 0.5
探头尺寸(mm) 7.5X11X200

F10探头

F10探头,测量范围扩展至0-10000um,主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片,用于校准仪器。
测头型号 F10  
工作原理 磁感应
测量范围(um) 0-10000
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+1]
测量条件 曲率半径(mm) 10
基体面积的直径(mm) ф40
临界厚度(mm) 2
探头尺寸(mm) ф30X47

F400探头

F400探头,主要用于较薄厚度的涂层测量,可获得好的测量结果和高的重复性,另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时,F400探头也是不错的选择
测头型号 F400
工作原理 磁感应
测量范围(um) 0-400
低限分辨力(um) 0.1
示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1]
两点校准(um) ±[(1~3)%H+0.7]
测量条件 曲率半径(mm) 凸 1
基体面积的直径(mm) ф3
临界厚度(mm) 0.2
探头尺寸(mm) ф12X55

 

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